技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLESX射線三維顯微鏡是一種利用X射線進行三維成像的高精度儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。為了確保其正常運行和延長使用壽命，日常養(yǎng)護至關(guān)重要。以下是關(guān)于X射線三維顯微鏡的日常養(yǎng)護方式的一些要點：1.清潔保養(yǎng)-定期使用柔軟的干布或?qū)Ｓ苗R頭紙輕輕擦拭顯微鏡的外部表面，去除灰塵和污垢。避免使用含有腐蝕性的清潔劑，以免損壞設(shè)備表面。-對于鏡頭部分，應(yīng)使用專業(yè)的鏡頭清潔液和鏡頭紙進行清潔。在擦拭時，要輕柔且均勻地擦拭，避免用力過猛導(dǎo)致鏡頭劃傷。-清潔過程中，注意不要讓液體滲入設(shè)...
電子順磁共振波譜儀，簡稱EPR或ESR，是一種基于電子順磁共振現(xiàn)象的分析技術(shù)，專門用于檢測和研究具有未配對電子的物種，如自由基、某些過渡金屬離子和缺陷態(tài)材料。這項技術(shù)能夠提供物質(zhì)分子結(jié)構(gòu)、電子狀態(tài)以及其周圍環(huán)境的詳細信息，是化學(xué)、物理、生物學(xué)和材料科學(xué)等領(lǐng)域的重要研究工具。EPR波譜儀的核心工作原理是，當樣品中的未配對電子置于外加磁場中時，這些電子的磁矩會與磁場相互作用，產(chǎn)生能級分裂。此時，如果外加一個頻率合適的微波，電子會吸收微波能量并躍遷至高能級，形成所謂的電子順磁共振吸...
在物理、化學(xué)、生物等科學(xué)領(lǐng)域的研究實驗室中，電子順磁共振波譜儀是一種不可或缺的分析工具。它通過探測物質(zhì)分子中未配對電子的磁性質(zhì)，揭示了分子結(jié)構(gòu)的諸多秘密，為科學(xué)研究提供了強有力的支持。電子順磁共振波譜儀基于電子順磁共振現(xiàn)象，即未配對電子在磁場中對微波的吸收。這項技術(shù)涉及到將樣品置于一個嚴格控制的磁場環(huán)境中，并使其受到特定頻率微波的作用。當未配對電子吸收微波能量時，它們會在特定的能級之間躍遷，而這種躍遷被儀器檢測并記錄下來，形成特有的波譜圖。這種波譜圖是順磁共振波譜儀輸出的關(guān)鍵...
織構(gòu)簡介一般的多晶材料表現(xiàn)出各向同性，這是因為在多晶體中各晶粒無規(guī)取向。如果因為某些原因使得每個晶粒的取向趨于一致，我們稱之為擇優(yōu)取向或者織構(gòu)。出現(xiàn)織構(gòu)以后，材料將表現(xiàn)出不同程度的各向異性。在多數(shù)情況下，我們不希望有織構(gòu)。但一些織構(gòu)結(jié)構(gòu)可以提高材料的力學(xué)和電學(xué)性質(zhì)，因此樣品正確的取向或織構(gòu)至關(guān)重要。大多數(shù)金屬樣品在加工過程中由于加工技術(shù)而表現(xiàn)出一定程度的織構(gòu)結(jié)構(gòu)。比如電鍍層在形成時，織構(gòu)往往與電流傳導(dǎo)方向相關(guān)。金屬經(jīng)鍛造、軋制、擠壓、拉拔等加工時，由于加工應(yīng)力的作用將形成形變...
布魯克三維X射線顯微鏡（3DX-rayMicroscopy,3DXRM）在地質(zhì)油氣領(lǐng)域的應(yīng)用極為普遍，能夠為巖石、沉積物和流體行為的研究提供高分辨率的三維成像。這項技術(shù)在巖石物理、儲層特性分析和微觀結(jié)構(gòu)研究中具有重要的應(yīng)用價值。應(yīng)用概述布魯克三維X射線顯微鏡通過X射線掃描樣品，生成其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率三維圖像。它能夠在不破壞樣品的前提下，提供詳細的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息，對油氣地質(zhì)研究具有重要意義。主要應(yīng)用領(lǐng)域一、巖石孔隙結(jié)構(gòu)分析孔隙率與滲透率測定：三維X射線顯微鏡可以精確測量巖石樣品...
知道我的人，發(fā)現(xiàn)近期我在提倡一個字:慢。對于一個急性子的人，有點不可思議。不過我提倡的“慢”不是指做事慢吞吞，而是留給自己足夠的時間去琢磨一些看起來簡單，無關(guān)乎結(jié)果的事情。把節(jié)奏放慢下來。儀器的進步帶來了很多便利，常見的一句話是現(xiàn)在的D8VENTURE真好用，好的晶體分分鐘就測完了。挑晶體的時間比測試的時間還長。確實現(xiàn)在的處境不是等機時，而是好多D8VENTURE空在那里等樣品。一個星期長出來的樣品，一天就被清空了。剩下的時間做什么呢？我覺得應(yīng)該去琢磨哪些看起來不好做的晶體，...
俄歇電子能譜儀（AES），作為表面分析技術(shù)領(lǐng)域的納米探針，在固體材料表面納米尺度的元素成分分析及形貌表征方面發(fā)揮著重要作用。AES采用場發(fā)射電子源作為探針，不只能通過從樣品表面激發(fā)出二次電子以觀察表面形貌，還能通過探測俄歇電子，用于表面成分分析。此外，AES通過集成的濺射離子設(shè)備賦予了對材料縱向深度的逐層剖析能力，從而深入洞悉材料從表面至內(nèi)部的成分變化與分布規(guī)律。本篇技術(shù)文章將主要介紹AES的基本功能：表面元素的定性分析、定量分析以及化學(xué)態(tài)分析。表面元素定性分析俄歇躍遷過程表...
從工作開始接觸化學(xué)小分子晶體學(xué)，經(jīng)常見的一句話：高角度沒點，怎么辦?這看似簡單的問題，實則隱藏著諸多未解之謎。盡管它十分普遍，但每次聽到，我總會陷入沉思。我明白提問者所要表達的意思。但是這個問題并沒有表達出晶體的衍射能力怎么樣？所謂的“沒點”又表示著怎樣的具體情況？然而多數(shù)情況下，稍微問一下，就發(fā)現(xiàn)“高角度沒點”只是空洞的訴求。分辨率，衍射能力，這是晶體學(xué)里重要的東西。然而化學(xué)晶體學(xué)很多時候都在弱化這些基礎(chǔ)。高角度無點，但晶體的分辨率是.9A？1.1A？1.5A？3A？還是更...
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